商用FPGA器件的单粒子效应模拟实验研究

• 作者: 张宇宁 张小林 李华旺 杨根庆
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 单粒子翻转 FPGA 重离子 辐射实验
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 电子信息
• 页码范围: 2025-2030
• 页数: 6页
• 分类号: V438.4
• 字数: 3833字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2009.05.047

摘要

描述了商用Xilinx Virlex-Ⅱ Pro器件的重离子辐射实验,以评估器件的单粒子翻转(SEU)特性并检验测试方法的有效性.针对器件不同的功能模块设计不同的实验方案,分别测试了FPGA配置信息,内嵌PowerPC处理器和RocketIO Gbit收发器的单粒子翻转截面,并对观察到的错误进行分析与分类.实验同时表明配置信息的周期刷新和三模冗余设计是减轻单粒子效应的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨根庆	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	56	365	11.0	15.0
5	张小林	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	13	69	5.0	7.0
11	张宇宁	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	6	43	4.0	6.0