超大规模集成电路互连线问题的研究分析

• 作者: 谢鑫
• 来源期刊: 科技创新导报
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 互连线问题 建模 RC模型 RLC模型
• 年，卷（期）: 2009,（27）
• 所属期刊栏目: 工业技术
• 页码范围: 54-54
• 页数: 1页
• 分类号: TN47
• 字数: 1782字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-098X.2009.27.045

摘要

超大规模集成电路的互连线问题当今集成电路领域的一个研究热点,随着半导体器件和互连线尺寸的不断缩小,越来越多的关键设计指标--性能、抗扰度等--将主要取决于互连线,或受互连线的严重影响.为了加强对于互连线技术的了解和对互连线问题的进行研究,文章讨论了互连线模型中各元件的影响及对互连线的建模.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢鑫	上海交通大学电子工程系	4	5	2.0	2.0