芯片的腐蚀

• 作者: 付英 任建 刘斌
• 来源期刊: 企业技术开发(下半月)
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 逆向设计 版图解剖
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 机械机电
• 页码范围: 127-127
• 页数: 1页
• 分类号: TN405
• 字数: 1574字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8937.2009.09.072

摘要

集成电路的逆向设计主要是对集成电路芯片的版图解剖,它不仅决定着集成电路的功能是否正确,而且对集成电路的性能、成本与功耗也会有很大程度的影响.对集成电路版图进行的解剖是能否最终实现电路的性能和最低功耗的关键.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘斌	沈阳工业大学信息科学与工程学院	47	249	10.0	14.0
2	任建	沈阳工业大学信息科学与工程学院	11	45	3.0	6.0
3	付英	沈阳工业大学信息科学与工程学院	3	4	1.0	2.0