随机存取存储器故障分析及测试方案实现

• 作者: 周娟 蒋登峰
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 随机存取存储器检测 故障模型 故障表现
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 257-262
• 分类号: TP333.8
• 字数: 3688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2010.03.014

摘要

通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周娟	中国计量学院质量与安全工程学院	21	115	6.0	10.0
2	蒋登峰		1	11	1.0	1.0