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SOI技术的发展思路
SOI技术的发展思路
作者:
陈昕
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
SOI(silicon on Insulator)
浮体效应
自加热效应
阈值漂移
辐射加固
摘要:
对SOI技术的发展情况进行了概述.在此基础上,提出了新形势下SOI技术的发展思路.为了充分发挥SOI技术的优势,主要的思路是对影响器件稳定性的因素采取抑制方法、通过新结构和新材料的研究来应对硅基集成电路的固有弱点、通过关键技术攻关来应对SOI技术应用于射频及模拟和M/S电路时的物理模型问题、通过创新来推进SOI技术与新技术领域的融合.
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热载流子注入效应
失效机理
可靠性
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
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文献信息
篇名
SOI技术的发展思路
来源期刊
电子器件
学科
工学
关键词
SOI(silicon on Insulator)
浮体效应
自加热效应
阈值漂移
辐射加固
年,卷(期)
2010,(2)
所属期刊栏目
固体电子电路技术
研究方向
页码范围
193-196
页数
分类号
TN386
字数
3858字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1005-9490.2010.02.016
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈昕
同济大学电子科学与技术系
14
42
3.0
6.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
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共引文献
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参考文献
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节点文献
引证文献
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同被引文献
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引证文献(2)
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研究主题发展历程
节点文献
SOI(silicon on Insulator)
浮体效应
自加热效应
阈值漂移
辐射加固
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
主办单位:
东南大学
出版周期:
双月刊
ISSN:
1005-9490
CN:
32-1416/TN
开本:
大16开
出版地:
南京市四牌楼2号
邮发代号:
创刊时间:
1978
语种:
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
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