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摘要:
对SOI技术的发展情况进行了概述.在此基础上,提出了新形势下SOI技术的发展思路.为了充分发挥SOI技术的优势,主要的思路是对影响器件稳定性的因素采取抑制方法、通过新结构和新材料的研究来应对硅基集成电路的固有弱点、通过关键技术攻关来应对SOI技术应用于射频及模拟和M/S电路时的物理模型问题、通过创新来推进SOI技术与新技术领域的融合.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 SOI技术的发展思路
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 SOI(silicon on Insulator) 浮体效应 自加热效应 阈值漂移 辐射加固
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 固体电子电路技术
研究方向 页码范围 193-196
页数 分类号 TN386
字数 3858字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2010.02.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈昕 同济大学电子科学与技术系 14 42 3.0 6.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
SOI(silicon on Insulator)
浮体效应
自加热效应
阈值漂移
辐射加固
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
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