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惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案
惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案
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摘要：
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基于V93000系统的高速QDR SRAM存储器测试方法
四倍数据速率静态随机存取存储器
附加存储器测试
测试向量
全息存储—下一代存储解决方案
全息数据存储
DMD
CMOS APS
存储材料
惠瑞捷可扩展测试机台系列降低新一代IC测试成本
测试成本
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存储器模块测试系统的设计
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期刊影响力
世界电子元器件
主办单位：
中国电子信息产业发展研究院
出版周期：
月刊
ISSN：
1006-7604
CN：
11-3540/TN
开本：
16开
出版地：
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
邮发代号：
82-796
创刊时间：
1995
语种：
chi
出版文献量（篇）
5855
总下载数（次）
6
总被引数（次）
6108
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