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摘要:
利用微机电系统( MEMS)制造工艺制备出了一种硅基红外辐射源.该辐射源采用单晶硅为衬底,通过直流溅射沉积Pt/Ti薄膜,并利用深反应离子刻蚀与湿法腐蚀工艺制备隔离槽和释放支撑层.研究了支撑层厚度对红外辐射源辐射特性的影响.结果表明,随着支撑层厚度的减小,红外辐射源的调制驱动电压会降低.当支撑层厚度为1μm时,辐射源调制频率在50%的调制深度下达13 Hz,其频响特性已基本满足红外传感器系统的应用要求.
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文献信息
篇名 基于MEMS工艺的硅基红外辐射源研制
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 红外辐射源 微机电系统 调制深度
年,卷(期) 2011,(12) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 42-44
页数 分类号 TN215
字数 2276字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2011.12.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴传贵 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 27 96 5.0 8.0
2 罗文博 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 25 79 5.0 6.0
3 彭强祥 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 6 19 2.0 3.0
4 董晓辉 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 1 2 1.0 1.0
5 唐志军 1 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
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红外辐射源
微机电系统
调制深度
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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