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BaWO4掺杂对BMT陶瓷介电性能的影响
BaWO4掺杂对BMT陶瓷介电性能的影响
作者:
吴孟强
姜锐
彭森
肖勇
陈黎
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
Ba(Mg1/3Ta2/3)O3
掺杂
介电性能
微波介质陶瓷
摘要:
采用传统电子陶瓷工艺合成了BaWO4掺杂的Ba(Mg1/3Ta2/3)O3( BMT)微波介质陶瓷,研究了质量分数w(BaWO4)从2%~8%变化对BMT微波介质陶瓷结构和微波特性的影响.实验结果表明:添加少量的BaWO4能明显改善BMT陶瓷的烧结性能,当w(BaWO4)=4%时,BMT陶瓷的烧结温度由纯相时的1650℃以上降至1400℃,其体积密度为7.562 g/cm3,相对密度达到99%,同时BMT陶瓷体系获得了良好的微波性能:εr26.7,Q·f=98 THz(8 GHz),τf=6.5×10-6/℃.
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
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(/年)
文献信息
篇名
BaWO4掺杂对BMT陶瓷介电性能的影响
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
Ba(Mg1/3Ta2/3)O3
掺杂
介电性能
微波介质陶瓷
年,卷(期)
2011,(11)
所属期刊栏目
研究与制剂
研究方向
页码范围
1-4
页数
分类号
TM277
字数
3990字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2011.11.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
吴孟强
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
56
505
13.0
21.0
2
肖勇
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
16
113
7.0
10.0
3
彭森
邵阳学院信息工程系
121
19
2.0
2.0
4
陈黎
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
6
53
4.0
6.0
5
姜锐
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
3
12
2.0
3.0
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引文网络
引文网络
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共引文献
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节点文献
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(1)
同被引文献
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1985(1)
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2011(0)
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
2015(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
Ba(Mg1/3Ta2/3)O3
掺杂
介电性能
微波介质陶瓷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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