新型的嵌入式存储器测试算法

• 作者: 习友宝 官枫林
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 嵌入式存储器 故障覆盖率 外围互连线
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 1-3
• 分类号: TN47
• 字数: 605字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-623X.2011.12.001

摘要

针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状，提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显，故障覆盖率也能达到应用标准。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	习友宝	电子科技大学电子工程学院	82	592	12.0	20.0
2	官枫林	电子科技大学电子工程学院	4	11	3.0	3.0