集成电路可测性设计综述

• 作者: 孙健
• 来源期刊: 城市建设理论研究（电子版）
• 关键词: 集成电路 可测性设计
• 年，卷（期）: 2011,（28）
• 所属期刊栏目: 科技与建筑
• 字数: 2545字
• 语种: 中文

摘要

随着电路和系统日趋复杂，电路测试更加困难，电路可测性设计可以解决这一根本问题。近十多年来的研究己经取得了不少成果，但各种方法在不同程度上均存在局限性和实际应用上的困难，因此继续深入研究硬件开销少、可测性好、故障检测覆盖率高的方法仍然是数字系统设计领域中一个十分重要的课题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙健		18	176	6.0	13.0