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摘要:
对氮化铝陶瓷Ti-Ag-Cu活性法焊接界面的微观结构进行了研究,对比了涂TiH2后用Ag-Cu焊接和直接用Ti-Ag-Cu合金箔焊接两种方法的焊接界面的微观结构.
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回流次数和Ag含量对(Au-20Sn)-xAg/Cu焊接界面组织与剪切强度的影响
(Au-20Sn)-xAg焊料
显微组织
多次回流
Ag含量
剪切强度
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 氮化铝陶瓷Ti-Ag-Cu活性法焊接界面的微观结构
来源期刊 真空电子技术 学科 工学
关键词 AlN陶瓷 Ti-Ag-Cu活性法 微观结构
年,卷(期) 2012,(4) 所属期刊栏目 真空电子与专用金属材料、陶瓷-金属封接专辑
研究方向 页码范围 24-27
页数 分类号 TB756
字数 1875字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2012.04.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高陇桥 69 653 15.0 22.0
2 裴静 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
AlN陶瓷
Ti-Ag-Cu活性法
微观结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
出版文献量(篇)
2372
总下载数(次)
7
总被引数(次)
8712
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