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摘要:
基于延展波长(截止波长2.2μm)InGaAs-PIN光电探测器进行了失配异质结构InxGa1-xAs(x=0.72)/InP的MOCVD外延生长研究。采用宽带隙组分梯度渐变的InAlAs作为缓冲层和顶层,通过生长优化,获得了满足器件要求的外延材料。
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文献信息
篇名 失配异质结构InGaAs/InP的MOCVD生长
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 InGaAs 失配异质结构 MOCVD 梯度渐变InAlAs缓冲层
年,卷(期) 2012,(6) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 817-821
页数 分类号 TN304.054
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵志强 重庆邮电大学生物医学工程研究中心 22 197 7.0 13.0
2 周勋 21 79 5.0 8.0
3 莫才平 4 29 1.0 4.0
4 周勇 14 49 4.0 6.0
5 刘万清 4 21 2.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
InGaAs
失配异质结构
MOCVD
梯度渐变InAlAs缓冲层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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