嵌入式存储器的测试及可测性设计研究

• 作者: 丁学君 田勇
• 来源期刊: 世界电子元器件
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 嵌入式存储器 测试 产品集成 电子产品 系统级芯片 深亚微米 设计结构
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 45-47,55
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2090字
• 语种: 中文

摘要

引言近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC（系统级芯片）产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续的进步。SoC是采用IP复用技术的一种标准设计结构,在多功能电子产品中得到了广泛的应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁学君	东北财经大学管理科学与工程学院	29	254	9.0	15.0
2	田勇	大连东软信息学院嵌入式系统工程系	14	58	5.0	7.0