基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法

• 作者: 严鲁明 梁华国 黄正峰
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路老化 失效防护 时-空冗余 可靠性
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 38-44
• 页数: 7页
• 分类号: TN406
• 字数: 5021字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2013.00038

摘要

集成电路工艺水平进入深亚微米时代后,电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战.对电路老化导致的电路失效防护问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法根据老化的行为特征,通过冗余的时序单元对数据路径进行加固,并采用多时钟技术控制时序单元的采样过程.当电路出现因老化导致的时序错误时,通过冗余时序单元的二次采样纠正电路错误信号；同时,统一调整电路的时钟相位,保证每条数据路径都满足时序要求,防止电路失效的发生.方法在ISCAS'89基准电路中进行了测试.实验数据表明:在冗余时钟相位差达到时钟周期的20％时,该方法可以有效的将电路的平均故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	严鲁明	合肥工业大学计算机与信息学院	4	18	2.0	4.0