Multisim在电子测量技术中最坏情况分析

• 作者: 张文蔚 王建平 郑昊
• 来源期刊: 教育教学论坛
• 学科: 教育
• 关键词: Multisim WCA 电子测量技术
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 页码范围: 97-97,98
• 页数: 2页
• 分类号: G642.1
• 语种: 中文

摘要

最坏情况分析（Worst Case Analysis）是容差分析的一种主要技术。这是一种电路可靠性分析设计技术，用来评估电路中各器件参数同时发生最坏情况变化时的电路性能，用以保证电路在整个寿命周期内都能够可靠工作。WCA是一种全面系统分析电路可靠性的方法，在电子可靠性设计中将占据重要地位。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张文蔚	上海工程技术大学高职学院	16	61	4.0	7.0
2	王建平	上海工程技术大学高职学院	12	4	2.0	2.0
3	郑昊	上海工程技术大学高职学院	2	2	1.0	1.0