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摘要:
针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试。较大的改善了含DSP电路板的测试覆盖率和定位精度,具有非常重要的实用价值。
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算法
边界扫描技术在微处理器电路板测试与诊断的研究
处理器
边界扫描
测试与诊断
存储器测试
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文献信息
篇名 DSP电路板测试中的边界扫描技术
来源期刊 电子世界 学科
关键词 DSP 边界扫描 测试与诊断
年,卷(期) 2013,(20) 所属期刊栏目 工程师笔记
研究方向 页码范围 84-84
页数 1页 分类号
字数 1231字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李正东 中国电子科技集团公司第38研究所 3 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
DSP
边界扫描
测试与诊断
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
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36164
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46655
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