半导体测试仪器故障诊断技术研究

• 作者: 何林 蔡明理
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体测试仪器 故障诊断 模式识别
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与封装
• 页码范围: 395-397,412
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

对半导体测试仪器故障诊断方法学和故障定位实用方法进行了初步研究.故障诊断是模式分类和识别结合维修经验的一种重复过程.在简述常用的诊断方法和故障定位技术基础上,用实例探讨了在半导体测试仪器维护实践中运用诊断理论的技巧.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何林	中国电子科技集团公司第二十四研究所	4	122	3.0	4.0
2	蔡明理	中国电子科技集团公司第二十四研究所	2	12	2.0	2.0