基于内建自测试的测试向量生成方法

• 作者: 禚永 魏淑华
• 来源期刊: 电脑与电信
• 关键词: 可测性设计 内建自测试 测试向量生成 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 学术探讨
• 页码范围: 44-46,57
• 页数: 4页
• 字数: 2794字
• 语种: 中文

摘要

内建自测试（BIST）方法是目前可测性设计（DFT）中最具应用前景的一种方法。BIST能显著提高电路的可测性，而测试向量的生成是关系BIST性能好坏的重要方面。测试生成的目的在于，生成可能少的测试向量并用以获得足够高的故障覆盖率，同时使得用于测试的硬件电路面积开销尽可能低，测试时间尽可能短。本文对几种内建自测试中测试向量生成方法进行了简单的介绍和对比研究，分析各自的优缺点，并在此基础上探讨了BIST面临的主要问题和发展方向。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏淑华	北方工业大学信息工程学院	16	8	2.0	2.0
2	禚永	北方工业大学信息工程学院	1	3	1.0	1.0