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锡银系无铅焊点在电子封装中的可靠性分析
锡银系无铅焊点在电子封装中的可靠性分析
作者:
石利娟
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
无铅焊点
电子封装
可靠性
作用
摘要:
目前,对无铅焊料合金和焊接、使用时材料的相互作用以及焊点可靠性并不是很了解。笔者针对无铅焊料的使用可靠性、测试方法进行研究,并对测试结果进行有效的分析,以求探究使无铅焊点在电子封装中形成一个有力的标准,为无铅电子产品的研发展现出更有利的参数考量,为新型无铅焊料的开发做出更有价值的贡献。
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篇名
锡银系无铅焊点在电子封装中的可靠性分析
来源期刊
科技展望
学科
工学
关键词
无铅焊点
电子封装
可靠性
作用
年,卷(期)
2014,(12)
所属期刊栏目
技术与应用
研究方向
页码范围
104-104
页数
1页
分类号
TN604
字数
2231字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
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1
石利娟
上海微电子装备有限公司可靠性工程中心
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电子封装
可靠性
作用
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
科技展望
主办单位:
宁夏科技发展战略和信息研究所
出版周期:
旬刊
ISSN:
1672-8289
CN:
64-1054/N
开本:
大16开
出版地:
宁夏回族自治区银川市
邮发代号:
创刊时间:
1991
语种:
chi
出版文献量(篇)
34711
总下载数(次)
166
总被引数(次)
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