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摘要：
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基于嵌入式芯核测试的IEEE std 1500标准
片上系统
嵌入式芯核
IEEE std 1500标准
芯核测试语言
基于 IEEE 1500标准的 IP核测试壳的设计与验证
IEEE 1500标准
SoC测试
测试壳
自动生成
基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计
IEEE 1500标准
IP核
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期刊影响力
消费电子
主办单位：
中国电子商会
出版周期：
月刊
ISSN：
1674-7712
CN：
11-5879/TM
开本：
16开
出版地：
北京市
邮发代号：
82-224
创刊时间：
2003
语种：
chi
出版文献量（篇）
15286
总下载数（次）
35
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