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摘要:
Ⅴ族元素 As 在碲镉汞中具有较小的扩散系数,在非本征 p 型掺杂中得到广泛应用,在 p-on-n型高性能探测器及双色或多色探测器应用方面优势明显。对分子束外延掺 As 碲镉汞薄膜的几种生长技术的基本原理进行了简单介绍,并对各方法存在的优缺点进行了对比分析;同时对 As 杂质在碲镉汞材料中的掺杂形态、杂质激活退火工艺及杂质激活率等进行了总结分析。对 MBE As 掺杂在第三代多层膜结构器件的应用方面提出了建议。
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文献信息
篇名 分子束外延碲镉汞薄膜的砷掺杂技术
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 分子束外延 碲镉汞 As掺杂 退火 杂质激活
年,卷(期) 2015,(10) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 858-863
页数 6页 分类号 TN304
字数 4214字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李东升 27 43 3.0 4.0
2 覃钢 8 9 2.0 2.0
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碲镉汞
As掺杂
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相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
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13
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30858
论文1v1指导