浅谈我国集成电路测试技术现状及发展战略

• 作者: 刘高歌
• 来源期刊: 技术与市场
• 关键词: 集成电路测试技术 现状 发展战略
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 175
• 页数: 1页
• 字数: 1708字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8554.2015.12.096

摘要

集成电路属于微型电子器件的一种类型,即采用相应的工艺将电路电阻、晶体管、电感、电容元件连接起来,封装于管壳内,这样就具备了电路功能,目前,集成电路测试技术已经在多个领域中得到了广泛的应用,主要针对我国集成电路测试技术现状及发展战略进行分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘高歌		4	6	1.0	2.0