一种电子元器件的储存寿命预测方法研究

• 作者: 孙小进 梁伟明 王国宁
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 长期储存 加速寿命试验 寿命预测 Arrhenius模型
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: TN6

摘要

电子元器件长期储存可靠性技术和寿命预测方法是亟待研究的课题。某电子元器件，采用恒定应力加速寿命试验，以常温储存数据为基础，选取3个不同的高温点进行加速储存寿命试验，将拟合好的测试结果代入构建的理论分析模型，得到该器件储存寿命的预计结果。结果证明通过Arrhenius模型预测出的该类电子元器件的长期储存寿命有很高的置信度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁伟明		3	0	0.0	0.0
2	孙小进		1	0	0.0	0.0
3	王国宁		1	0	0.0	0.0