考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估

• 作者: 梁华国 袁德冉 许晓琳 闫爱斌
• 来源期刊: 合肥工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子瞬态 逻辑屏蔽 扇出重汇聚 软错误率 失效概率
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 计算机与信息工程
• 页码范围: 1341-1346
• 页数: 6页
• 分类号: TN431.2|TP391.7
• 字数: 5020字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5060.2016.10.009

摘要

为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法.通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量下的敏化路径;通过单指数电流源模拟瞬态故障脉冲的产生,并将脉冲在敏化路径上传播,使用脉冲屏蔽模型评估电气屏蔽和时窗屏蔽效应;最后采用该方法计算可得电路总体SER.实验结果表明,由于考虑扇出重汇聚的影响,该方法平均提高8.2％的SER评估准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	许晓琳	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	9	44	3.0	6.0
3	闫爱斌	合肥工业大学计算机与信息学院	9	41	4.0	6.0
4	袁德冉	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	3	14	2.0	3.0