光学元件改性处理对激光损伤阈值的影响

• 作者: 周炼 徐曦 李亚国 袁志刚 赵世杰 陈贤华
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 熔石英 光学元件 激光损伤阈值 化学改性 刻蚀速率 表面粗糙度 机械特性
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 高功能激光光学元器件
• 页码范围: 2956-2961
• 页数: 6页
• 分类号: TQ171.734|TN305.2
• 字数: 2008字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20162412.2956

摘要

针对355 nm激光作用于熔石英光学元件后其损伤阈值容易变差的问题,提出使用1.7％纯HF溶液和0.4％HF与1.2％NH4F混合的BOE溶液对样品进行处理来提高它们的激光诱导损伤阈值(LIDT).在相同的条件下将熔石英光学元件浸没到上述两种不同的刻蚀溶液中进行处理,通过测量刻蚀过程中元件重量变化来计算刻蚀速率,利用Zygo轮廓仪测试元件表面粗糙度,然后对355 nm激光照射下熔石英元件的损伤阈值情况进行研究.损伤测试表明,LIDT与元件的材料去除深度有关系,用两种刻蚀液刻蚀去除一定深度后,LIDT均有增加,但是进一步去除会显著地降低元件的LIDT.在处理过程中,这两种刻蚀液的去除速率都很稳定,分别为85.9 nm/min和58.6 nm/min左右.另外,元件表面的粗糙度会随着刻蚀时间的增加而变大.在刻蚀过程中还通过纳米技术测量了熔石英元件表面的硬度及杨氏系数,不过没有证据表明其与激光诱导损伤有明确的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵世杰		3	6	2.0	2.0
2	陈贤华		11	72	6.0	8.0
3	袁志刚		9	57	6.0	7.0
4	李亚国		6	44	4.0	6.0
5	徐曦		2	17	2.0	2.0
6	周炼		2	2	1.0	1.0