基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法

• 作者: 潘强 熊波 王小东 申平
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: IDDT 标准差 偏斜度 概率神经网络 CMOS电路
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 【在线测试与故障诊断】
• 页码范围: 163-166
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 字数: 1829字
• 语种: 中文

摘要

以CMOS电路动态电流(IDDT)为研究对象，提出了一种针对 IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发，通过计算故障电路IDDT的标准差和偏斜度得到故障特征。文中采用CMOS与非门电路进行仿真，将该方法与小波变换预处理方法进行对比，并结合概率神经网络分类方法对故障进行诊断。仿真结果证明了基于IDDT标准差和偏斜度预处理方法的有效性，并且结合概率神经网络对晶体管桥接故障、阻性开路故障和晶体管参数故障的故障诊断平均正确率达到90.7%。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘强		25	67	5.0	7.0
2	王小东		3	2	1.0	1.0
3	熊波		6	14	2.0	3.0
4	申平		2	2	1.0	1.0