JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究

• 作者: 李文军
• 来源期刊: 甘肃科技
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 阿伦尼斯模型 高温贮存
• 年，卷（期）: 2016,（23）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 2770字
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了加速寿命试验中最为常用的阿伦尼斯模型,并按该模型选择JT54LS273型集成电路变化最大的关键参数,求得元器件在常温贮存时的数学模型,以常温贮存数据作为评价元器件加速贮存寿命的主要依据.选择同型号、同品种的元器件,进行高温加速贮存试验与常温贮存试验数据进行比较,并建立加速贮存试验模型.得出同一型号同一品种器件的高温贮存加速因子、高温贮存试验时间,提前得出器件长期贮存试验数据,以判断器件是否满足储存期要求,并给出试验结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文军		2	1	1.0	1.0