浅谈对集成电路加速寿命试验的认识

• 作者: 帅喆 颜燕
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 寿命试验 浴盆曲线
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 页码范围: 42-44
• 分类号: TN306
• 字数: 1416字
• 语种: 中文

摘要

老炼、稳态寿命等加速寿命试验是衡量集成电路使用寿命的主要手段.文中简要介绍了集成电路的主要可靠性指标——FIT,呈现集成电路失效特征的“浴盆曲线”,以及不同失效阶段的主要影响因素、失效率与时间相关的统计分布特征.在此基础上,文章对老炼和稳态寿命的试验目的进行了说明,并列出稳态寿命试验的等效试验条件表以及通过该试验的集成电路使用寿命的一些参考数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜燕		4	8	2.0	2.0
2	帅喆		4	8	2.0	2.0