平面光学元件PMD面形检测的调整技术研究

• 作者: 李大海 王琴 章涛 鄂可伟 金成英
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相位测量偏折术 自由度分析 灵敏度矩阵 光线追迹 精密调整
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 67-76
• 页数: 10页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 3562字
• 语种: 中文

摘要

针对相位测量偏折术(PMD)检测平面光学元件面形的光路结构,系统地分析了各部件因各自由度的不确定度变化对重建面形的影响,并且提出了一种高精度的平面元件调整方法.通过对相移算法得到的显示器坐标与通过光线追迹得出的参考面显示器坐标进行比较,能够将被测镜调节至理想测试状态,从而能准确求出被测面上各点斜率,再采用波前重建算法,实现了光学元件面形重建.实验结果显示,有效口径为Φ140 mm的平面元件在去掉Zernike多项式前6项的面形数据与干涉仪的测量结果差值在RMS=5 nm以内,结果远优于未经过该方法调整的结果.因此,该调整方法可行,能够有效完成对平面元件的精密调整,具有很大的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李大海	四川大学电子信息学院	70	689	14.0	24.0
2	王琴	四川大学电子信息学院	49	179	8.0	11.0
3	鄂可伟	四川大学电子信息学院	9	17	3.0	3.0
4	章涛	四川大学电子信息学院	3	5	1.0	2.0
5	金成英	四川大学电子信息学院	2	2	1.0	1.0