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高压IGBT模块局部放电研究现状
高压IGBT模块局部放电研究现状
作者:
刘曜宁
王昭
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
IGBT模块
电气绝缘
综述
局部放电
高压
封装
摘要:
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)模块一直朝着更高耐压和更大电流密度的方向发展,因模块内部电气绝缘和局部放电引起的问题也越来越明显.在高电压IGBT模块封装中,通常使用硅凝胶和环氧树脂来对模块进行灌注和密封,以满足其高电场承受能力,提升整个模块的绝缘性能和局部放电表现.目前很多国内外学者已经在这方面进行一系列研究,主要目的在于优化IGBT模块内部的电场分布.本文重点介绍目前研究的几种可以改善IGBT内部电场分布状态的方法,并对局部放电可靠性的提升方法进行总结.
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文献信息
篇名
高压IGBT模块局部放电研究现状
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
IGBT模块
电气绝缘
综述
局部放电
高压
封装
年,卷(期)
2017,(10)
所属期刊栏目
综述
研究方向
页码范围
12-18
页数
7页
分类号
TM215.92
字数
3562字
语种
中文
DOI
10.14106/j.cnki.1001-2028.2017.10.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王昭
6
10
1.0
3.0
2
刘曜宁
2
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1.0
传播情况
被引次数趋势
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研究主题发展历程
节点文献
IGBT模块
电气绝缘
综述
局部放电
高压
封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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