考虑峰值温度和TSV数目的三维集成电路芯片的布图规划方法研究

• 作者: 潘中良 班涛 陈倩
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 三维集成电路 硅通孔 峰值温度 布图规划 热分析
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 103-105
• 页数: 3页
• 分类号: TN402
• 字数: 3503字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9416.2017.12.054

摘要

三维集成电路相对于传统的集成电路可以持续并较好地实现高密度和多功能,可以使电路中的一些信号互连缩短,并加快信号的传输速度.三维芯片层间的互连是通过硅通孔来实现的,所采用的垂直堆叠方式会使芯片的功耗密度增加,从而使得发热量急剧增长.本文针对三维电路芯片的工作温度、TSV数目、互连线长度以及芯片面积等因素,研究了一种协同考虑芯片峰值温度和TSV数目的三维芯片布图算法,可以使所设计的三维电路芯片不仅它的峰值温度符合设计规范的要求,而且所使用的TSV数目较少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘中良	华南师范大学物理与电信工程学院	65	230	8.0	12.0
2	陈倩	华南师范大学物理与电信工程学院	23	51	5.0	6.0
3	班涛	华南师范大学物理与电信工程学院	5	2	1.0	1.0