功率VDMOS器件热阻测试

• 作者: 刘琦 刘金婷 单长玲 田欢 许允亮
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 功率VDMOS器件 热特性 热阻 可靠性
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TN784
• 字数: 2498字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2018.02.011

摘要

功率VDMOS器件的热阻,是衡量输入功率与工作环境热特性的重要参数,在器件研制和系统设计中占有重要地位.从器件的热模型出发,给出了热阻的测试方法.针对二极管正向压降测试所需要的温度系数,分析了数据处理方法,给出提高温度系数计算精度的途径.结合热电偶测量原理,给出了提高热电偶测量精度的方法.所涉及的热阻测量方法,能够为热阻的高精度测量提供基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许允亮		5	3	1.0	1.0
2	单长玲		6	1	1.0	1.0
3	刘琦		5	1	1.0	1.0
4	田欢		2	1	1.0	1.0
5	刘金婷		5	6	2.0	2.0