窄带Dither技术在流水线ADC中的校正研究

• 作者: 王兴华 赵洪明 闫肃 陈铖颖 靳翔
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: Dither技术 流水线ADC 电容失配 无杂散动态范围
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 电路与系统设计
• 页码范围: 146-150,155
• 页数: 6页
• 分类号: TN79+2|TN432
• 字数: 2125字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.170225

摘要

随着工艺和技术的不断发展,对ADC的无杂散动态范围(SFDR)的要求越来越高.提出了一种窄带Dither技术来改善流水线ADC的SFDR.介绍了Dither的原理和产生电路.基于TSMC 90 nm CMOS工艺,设计了一种12位100 MS/s ADC.在该ADC中运用了Dither技术,并对Dither技术的运用效果进行了仿真与验证.结果表明,当输入信号幅度为63.25 mV、频率为9.325 MHz、采样频率为50 MHz时,该ADC的SFDR为77.97 dB.采用Dither技术后,在保证SNR几乎不变的情况下,SFDR可达84.79 dB,较不采用Dither技术提高了6.82 dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王兴华	北京理工大学信息与电子学院北京市硅基高速片上系统工程技术研究中心	20	57	4.0	6.0
2	闫肃	北京理工大学信息与电子学院北京市硅基高速片上系统工程技术研究中心	6	14	2.0	3.0
3	陈铖颖	厦门理工学院光电与通信工程学院智能感知集成电路与系统实验室	20	14	2.0	2.0
4	赵洪明	北京理工大学信息与电子学院北京市硅基高速片上系统工程技术研究中心	3	10	2.0	3.0
5	靳翔	北京理工大学信息与电子学院北京市硅基高速片上系统工程技术研究中心	2	3	1.0	1.0