基于混合三模冗余的容忍双点翻转锁存器

• 作者: 凤志成 姚慧杰 易茂祥 梁华国 欧阳一鸣 黄正峰
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 双点翻转 混合三模冗余 加固锁存器
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 968-974
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 3544字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1089.2018.16316

摘要

随着集成电路工艺的飞速发展, 电路内部节点对于高能粒子入射的敏感性急速增大, 锁存器中辐射效应引起的软错误急剧增多. 进入90 nm工艺以后, 电荷共享导致的双点翻转已经成为影响可靠性的严重问题. 为此, 基于混合三模冗余机制, 提出2种加固锁存器结构: TMR-2D1R锁存器和TMR-1D2R锁存器. 传统的三模冗余锁存器包括3个同构的D-latch和1个表决器; TMR-2D1R锁存器包括2个D-latch, 1个RHM单元和1个表决器, 可以部分容忍双点翻转; TMR-1D2R锁存器包括1个D-latch, 2个RHM单元和1个表决器, 可以完全容忍双点翻转. 与相关加固锁存器进行比较的结果表明, TMR-1D2R锁存器在延迟、功耗、面积和加固性能等方面取得了较好的折中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
4	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
5	姚慧杰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	3	1.0	1.0
6	凤志成	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	1	3	1.0	1.0