半导体器件测试文件处理之研究

• 作者: 张奇
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 半导体器件 测试文件 处理
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 网络与信息工程
• 页码范围: 73-74,66
• 页数: 3页
• 字数: 2641字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.02.034

摘要

随着半导体技术的不断进步,半导体器件在工业科技领域的应用不断增长,为保证半导体企业输出质量上乘、品质优良的产品,对半导体器件测试的要求也不断提高.通过对半导体测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到半导体设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张奇		3	5	2.0	2.0