基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究

• 作者: 余丽霞 唐胜果 徐海丰 李倩 李兰 王明明 赵凯旋 赵曼 赵辉 钱小丽
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: L0漏光 ADS 显示模式 无边框液晶模组 田口法
• 年，卷（期）: 2019,（7）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 667-675
• 页数: 9页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 4025字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20193407.0667

摘要

为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料 、PI原材 、ODF工艺 、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间 、PI膜厚 、TFT&CT面摩擦强度 、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8～2.1μm及6.4～8.0μm的面板作为噪声因子高低水平.按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130 s,PI膜厚设置为75 nm,TFT面摩擦强度设置为14 mm,CF面摩擦强度设置为15.5 mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63.该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04.特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4～8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level 3的不良率从6.2％ 下降到0.2％.