基于超声扫描的塑封器件缺陷判定方法研究

• 作者: 杨达明 王旭亮 黄姣英
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 航空航天
• 关键词: 电子设备 塑封器件 超声扫描检测 缺陷
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 39-45
• 页数: 7页
• 分类号: V443
• 字数: 4090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2020.01.009

摘要

超声扫描检测因为其灵敏度高、对样品没有损伤的特点,被广泛地应用到塑封器件的筛选和检测中,但是目前不存在一个完整的超声扫描检测方法.对塑封器件缺陷进行分析,提出一种塑封器件缺陷的超声扫描检测方法.该方法采用A扫描与C扫描检测塑封器件内部的缺陷,其过程为塑封体缺陷检测与重要界面缺陷检测.与现有GJB 4027A要求的聚焦6个重要界面的检测方法相比,本方法只需要聚焦两个界面即可观察到6个界面的情况,可以提升检测效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	41	128	6.0	10.0
2	杨达明	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	4	3	1.0	1.0