基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究

• 作者: 孔维相 石颉 袁晨翔 赵德宇 陆群
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 统计学 逆向检验 Shapiro-Wilk检验 方差齐性分析 显著性检验 光电耦合器
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 68-74,79
• 页数: 8页
• 分类号: TN36
• 字数: 5771字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2020.04.012

摘要

基于统计学思想,提出了寿命预测过程的逆向检验方法,通过Shapiro-Wilk检验验证试验数据的分布特性,通过方差齐性分析检验实验过程老化机理一致性,通过显著性检验对回归方程的显著性进行检验.文章将该方法应用于光电耦合器的寿命预测过程,通过提出的逆向检验方法验证后,所得预测结果与生产厂家提供的参考寿命接近.实验结果表明该方法能够有效地检验试验数据和评估模型的适用性,进一步提高光耦寿命预测的准确性,同时该方法对其他器件的寿命预测也具有一定的借鉴价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石颉		2	0	0.0	0.0
2	孔维相		2	0	0.0	0.0
3	袁晨翔		2	0	0.0	0.0
4	赵德宇		2	0	0.0	0.0
5	陆群		1	0	0.0	0.0