作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
对国内外标准中规定的大规模集成电路抽样方案要求进行了梳理,分析了上述抽样方案的内涵以及我国现行标准中规定的抽样方案要求对于当前大规模集成电路的适用性,研究提出了在大规模集成电路产品标准中确立有别于通用标准规定的特殊抽样方案要求的思路和建议.
推荐文章
国外超大规模集成电路的生产状况
超大规模集成电路
武器装备
发展对策
主流产品
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
超大规模集成电路中的可靠性技术应用与发展
超大规模集成电路
系统芯片
可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 大规模集成电路产品标准中抽样方案要求分析
来源期刊 质量与认证 学科
关键词 大规模集成电路 标准 抽样方案
年,卷(期) 2020,(11) 所属期刊栏目 课题研究
研究方向 页码范围 60-63
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.16691/j.cnki.10-1214/t.2020.11.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗晓羽 4 1 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2020(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
大规模集成电路
标准
抽样方案
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
质量与认证
月刊
1673-6818
10-1214/T
16开
北京市海淀区车公庄西路乙19号华通大厦B座北塔16层
80-569
2007
chi
出版文献量(篇)
4411
总下载数(次)
13
论文1v1指导