COB封装LED器件寿命评价方法研究

• 作者: 张晨朝
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: LED器件 COB封装 加速试验 寿命评价
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 48-49,62
• 页数: 3页
• 字数: 1752字
• 语种: 中文

摘要

COB封装的LED器件应用日趋广泛,但是其寿命评价方法仍限于做3000h或6000h的光通维持率试验,试验本身耗时较长,因此本文基于半导体器件的指数衰减规律和LED光通量的慢退化特性提出一种加速试验方法,对器件进行高温加速寿命试验,并对试验结果进行计算,得到了器件在加速试验温度下的L70寿命,然后利用相应水平的激活能,得到了在较低结温下的L70寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张晨朝	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	0	0.0	0.0