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一种新型可容忍单节点翻转锁存器加固设计
一种新型可容忍单节点翻转锁存器加固设计
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摘要：
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一种新颖的抗辐射加固SR锁存器设计
振荡器
SR锁存器
辐射加固
三模冗余
一种新颖高效抗 SEU／SET锁存器设计
单粒子翻转
单粒子瞬态
锁存器
软错误
双模冗余
0.18μm工艺下单粒子加固锁存器的设计与仿真
单粒子
锁存器
低功耗
敏感点
两个低开销抗单粒子翻转锁存器
单粒子翻转
SEU
锁存器
辐射加固
CMOS
设计加固
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期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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46655
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