基于Minitab的宇航集成电路质量控制方法

• 作者: 何磊 蔡媛媛 魏然 戴莹 吕栋 虞勇坚
• 来源期刊: 电子与封装
• 关键词: 宇航集成电路 Minitab 质量控制 控制图 过程能力 六包装分析
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性|Microelectronics Fabrication & Reliability
• 页码范围: 54-58
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0608

摘要

在宇航集成电路筛选及考核检验环节,加强对关键测试参数的数据分析及判别,严格控制关键参数在批次内和批次间的一致性,是宇航集成电路的重要质量控制方法之一.运用Minitab软件分析宇航集成电路筛选过程中测试数据的稳定性和数据分布,评价测试过程能力.通过对宇航集成电路测试数据的过程能力分析,评估测试程序的开发质量好坏,对宇航集成电路的质量不断改善具有指导意义,同时为GJB3014等军标体系的具体实施提供参考.