原文服务方: 电子质量       
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混合集成电路内键合失效模式及机理分析
键合工艺
混合集成电路
键合失效
混合集成电路的电磁兼容设计
混合集成电路
电磁兼容
电磁干扰
混合集成电路静电放电薄弱环节识别及静电防护研究
混合集成电路
静电放电
静电防护
模/数混合集成电路中的数字开关噪声分析
噪声
电流控制逻辑
功耗
功耗延迟积
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 接口混合集成电路长期工作寿命预计及验证
来源期刊 电子质量 学科
关键词 混合集成电路;工作寿命;加速寿命试验;可靠性
年,卷(期) 2025,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 44-47
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
混合集成电路;工作寿命;加速寿命试验;可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
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