电子与封装期刊
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543

电子与封装

Electronics and Packaging

影响因子 0.2463
本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
出版周期:
月刊
邮编:
214035
地址:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
出版文献量(篇)
3006
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9543
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  • 作者: 张丰华 张娅妮 田沣 邸兰萍
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  1-4,20
    摘要: 随着现代飞机性能的不断提高,电子设备的性能也大幅提升。与此同时,电子设备的组装密度越来越高,导致其热管理问题更加突出。针对高密度组装电子设备冷却散热技术面临的主要问题,从传热原理、冷却结构以...
  • 作者: 仝良玉 李宗亚 李耀 蒋长顺
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  5-8
    摘要: 温度循环是考核封装产品板级可靠性的重要试验之一。陶瓷四边引脚扁平封装(CQFP)适用于表面贴装,由于陶瓷材料与PCB热膨胀系数的差异,温循过程中引线互联部分产生周期性的应力应变,当陶瓷壳体面...
  • 作者: 吉勇 明雪飞 燕英强 陈桂芳 陈波
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  9-12
    摘要: 由于SEM显微镜、FIB显微镜检测高深宽比硅通孔耗时、费用高,研究了垂直扫描白光干涉技术检测硅通孔的可行性。设定刻蚀/钝化时间比率,改变深硅刻蚀功率和刻蚀时间,获得不同深度和侧壁粗糙度的硅通...
  • 作者: 张凯虹 陆锋 陈真
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  13-15
    摘要: 介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影...
  • 作者: 付俊爱 顾卫民
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  16-20
    摘要: 对于AC-DC电路测试,圆片测试(CP)一般采用开环测试的方法,测试项目较少,从而使CP的测试时间大大减少,提高了测试效率以及测试产能。CP测试的目的是测试基准电压以及输出波形等参数,并对相...
  • 作者: 杨芳 苟欢敏 薛培
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  21-25
    摘要: VPX总线标准具有带宽高、实时性强、拓扑结构灵活、通用性强、抗恶劣环境能力强等优点,代表着新一代军用综合信息处理平台系统的发展方向[1]。设计一种基于VPX标准的6U信号处理系统,该系统提供...
  • 作者: 冼友伦 王显跃 纪小明
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  26-30
    摘要: 针对传统总线数据传输存在的问题,提出基于Rapid IO在高速信号处理的应用,介绍Rapid IO的体系结构及其性能优势,根据Rapid IO协议,给出了基于TSI578的Rapid IO互...
  • 作者: 何颖 屠莉敏 易峰
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  31-33
    摘要: 提出一种采用BiCMOS工艺的低功耗、高电源抑制比、低温度系数的带隙基准电压源(BGR)设计。该模块基本原理是利用具有正温度系数的热电压VT和具有负温度系数的双极型晶体管VBE叠加产生与温度...
  • 作者: 崔金洪
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  34-36
    摘要: 由于技术的迅速发展与突破,使集成电路的制造得以在短短的60年间,单一晶粒已经可以容纳数千万个电晶体的超大型集成电路。其主要工艺为CMOS工艺,原因是它有功耗低、集成度高、噪声低、抗辐射能力强...
  • 作者: 李扬 李明达 王文林 陈涛
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  37-40
    摘要: 利用化学气相沉积方法制备所需硅外延层,通过FTIR(傅里叶变换红外线光谱分析)、C-V(电容-电压测试)、SRP(扩展电阻技术)等多种测试方法获取外延层的几何参数、电学参数以及过渡区形貌。详...
  • 作者: 张吉 杨城 潘凌宇 王伯淳 马清桃
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  41-44
    摘要: 随着倒装器件在型号产品中使用越来越广泛,倒装器件在使用过程中也暴露出一些问题,如底充胶分层、焊点空洞以及裂纹等,这些缺陷均能导致倒装器件失效。总结了几种倒装器件超声扫描的缺陷,重点对底充胶以...
  • 作者: 严启荣 田世锋 章勇
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2014年11期
    页码:  45-48
    摘要: 采用数值分析方法进行模拟分析InGaN/GaN混合多量子阱中移去p-AlGaN电子阻挡层对GaN基双蓝光波长发光二极管(LED)性能的影响。结果发现,与传统的具有p-AlGaN电子阻挡层的双...

电子与封装基本信息

刊名 电子与封装 主编 王虹麟
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所  主管单位 中国电子科技集团公司
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1681-1070 CN 32-1709/TN
邮编 214035 电子邮箱 ep.cetc58@163.com
电话 0510-85860386 网址 www.ep.org.cn
地址 江苏无锡市惠河路5号(208信箱)

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