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可编程半导体抗浪涌保护器件
浪涌
箝位
闩锁效应
可编程
基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
塑封半导体器件的可靠性保证措施
塑封半导体器件
可靠性
温度适应性评估
二次筛选
破坏性物理分析
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 浅谈半导体器件试验和测试的保护措施
来源期刊 电子与仪表技术 学科 工学
关键词 半导体器件 试验 保护
年,卷(期) 1992,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 45-46
页数 5页 分类号 TN307
字数 语种
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
半导体器件
试验
保护
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与仪表技术
双月刊
31-1446/TH
上海肇嘉滨路750号
出版文献量(篇)
226
总下载数(次)
0
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0
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