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摘要:
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VLSI可测性设计研究
可测性设计
自动测试生成
扫描设计
边界扫描技术
嵌入式自测试
测试外壳
模拟测试总线
1m×1m微粉砖在烧成过程中“掉角”缺陷的解决实例
'掉角'
角裂
光滑状
热震稳定性
升温梯度
SRAM的一种可测性设计
内建自测试
线性反馈移位寄存器
故障覆盖率
本原多项式
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 1M位CMOSDRAM的可测性设计
来源期刊 江南半导体通讯 学科 工学
关键词 随机存贮器 CMOS 可测过程 设计
年,卷(期) 1992,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 13-19,43
页数 8页 分类号 TP333.8
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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节点文献
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二级引证文献  (0)
1992(0)
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研究主题发展历程
节点文献
随机存贮器
CMOS
可测过程
设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
江南半导体通讯
双月刊
江苏省无锡市105信箱微电子技术编辑部
出版文献量(篇)
141
总下载数(次)
1
总被引数(次)
0
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