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摘要:
推荐文章
ADuC8xx系列单片机闪速/电擦除数据存储器及其应用
AduC8xx系列单片机
闪速/电擦除数据存储器
应用
存储器模块测试系统的设计
存储器模块
测试系统
数字波形发生器
CMOS存储器IDD频谱图形测试
互补金属氧化物半导体存储器
电源电流
频谱图形
测试向量
缺陷
Flash存储器的内建自测试设计
flash存储器
故障模型
内建自测试
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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(/年)
文献信息
篇名 测试闪速存储器
来源期刊 电子计算机外部设备 学科 工学
关键词 测试 内速存储器
年,卷(期) 1993,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 74,41
页数 2页 分类号 TP333.7
字数 语种 中文
DOI
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1993(0)
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研究主题发展历程
节点文献
测试
内速存储器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子计算机外部设备
月刊
CN 33-1123/TP
机电部杭州第五十二研究所
出版文献量(篇)
799
总下载数(次)
3
总被引数(次)
0
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