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CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
CMOS集成电路的抗辐射设计
CMOS集成电路
抗辐射加固
总剂量效应
单粒子效应
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
开关电流
频谱图形
测试向量
模拟CMOS集成电路SEL仿真验证研究
CMOS集成电路
单粒子闩锁
失效物理
仿真验证
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 CMOS集成电路应用的经验点滴
来源期刊 仪器与未来 学科 工学
关键词 CMOS 集成电路 应用
年,卷(期) 1993,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 26-28
页数 3页 分类号 TN432
字数 语种
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
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1993(0)
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研究主题发展历程
节点文献
CMOS
集成电路
应用
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
仪器与未来
月刊
1000-1360
11-1307/TH
北京月坛南街3号
出版文献量(篇)
1060
总下载数(次)
1
总被引数(次)
0
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