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摘要:
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半导体集成电路电源拉偏测试研究
集成电路
电源拉偏测试
参数
半导体及集成电路工艺加工设备的调研与采购
调研与采购
需求
设备费用
技术能力
服务与技术支持
商务模式
采购规格书
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究
半导体
集成电路
可靠性测试
数据处理
结构相似性原理在半导体集成电路检验中的应用
结构相似性
集成电路
分组
检验方案
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 半导体集成电路的质量控制
来源期刊 电子工程 学科 工学
关键词 集成电路 质量控制 检验筛选 制造工艺
年,卷(期) 1996,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 48-53
页数 6页 分类号 TN430.6
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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1996(0)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
质量控制
检验筛选
制造工艺
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工程
季刊
南京市903信箱36分箱
出版文献量(篇)
1523
总下载数(次)
26
总被引数(次)
0
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