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摘要:
用射频磁控溅射法制备了CeO2-x高温氧敏薄膜.通过改变O2/Ar比,制备出不同组分和结构的CeO2-x薄膜.用Ce3d的XPS谱计算了Ce3+的浓度.XRD和AFM分析表明,薄膜经空气中高温退火后,形成了立方体CaF2型小晶粒,晶粒大小明显依赖于退火条件和膜厚.
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文献信息
篇名 新型氧敏CeO2-x薄膜的制备及结构研究
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 工学
关键词 二氧化铈 薄膜 结构 显微照片
年,卷(期) 1998,(3) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 198-201
页数 4页 分类号 TB4
字数 2391字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.1998.03.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 褚武扬 北京科技大学材料物理系 135 889 17.0 22.0
3 王燕斌 北京科技大学材料物理系 44 250 9.0 13.0
5 刘振祥 中国科学院物理研究所 4 9 2.0 3.0
6 谢侃 中国科学院物理研究所 4 9 2.0 3.0
7 杜新华 北京科技大学材料物理系 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
二氧化铈
薄膜
结构
显微照片
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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